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Obiettivi Formativi :
Il corso si propone di fornire allo
studente le conoscenze indispensabili per poter
correttamente effettuare misurazioni su segnali,
dispositivi e circuiti elettronici: i più
importanti strumenti di misura ed analisi e le
loro interazioni col sistema sotto misurazione
vengono ampiamente descritti.
Programma :
Richiami di metrologia, unità
di misura, campioni. Incertezze sistematiche ed
accidentali, assolute e relative. Propagazione
delle incertezze nelle misurazioni indirette.
Regole di scrittura della misura, cifre significative.
Intervallometri e frequenzimetri numerici. Conversione
AD e DA,
circuiti campionatori, convertitori AD a valore
istantaneo, convertitori AD a valore medio, convertitori
DA. Convertitori TRMS/CC. Strumenti indicatori
(voltmetro, amperometro, wattmetro, ohmetro e
rivelatori di zero) e dispositivi per ampliarne
il campo di misura. Metodi per le misurazioni
sui componenti, ponti di misura. Strumenti per
l’analisi dei segnali: oscilloscopi ed analizzatori
di spettro. Misurazioni e prove per la qualità
del prodotto. ATE – Sistemi automatici di
misura. Strumentazione virtuale
Testi di Riferimento :
Norma UNI-UNIPREA 4546, "Misure
e misurazioni: termini e definizioni fondamentali".
P.H.Sydenham, "Handbook of measurement
science", John Wiley & Son's, New
York.
L.Finkelstein, K.T.V.Grattan.( Editors ), "Concise
encyclopedia of measurement & instrumentation",
Pergamon, Oxford.
AA.VV.: Nuovo Colombo - "Manuale dell'ingegnere",
Hoepli. Milano.
Testi di Approfondimento :
P.H.Sydenham, N.H.Hancock, R.Thorn, "Introduction
to measurement science and engineering",
John Wiley & Son's, New York
J.R.Taylor, "Introduzione all'analisi
degli errori. Lo studio delle incertezze nelle
misure fisiche", Zanichelli, Bologna
B.M.Oliver, J.M.Cage, "Electronic measurements
and Instrumentation", McGraw-Hill /
Kogakusha, Tokyo.
M.Savino, "Fondamenti di scienza delle
misure", NIS - La Nuova Italia Scientifica,
Roma.
S.Leschiutta, "Misure elettroniche. Strumentazione
e telecomunicazioni", Pitagora, Bologna
R.D. Thornton e.a., "Handbook of basic
transistor circuits and measurements",
John Wiley & Son's, New York.
D.C.Smith, "High frequency measurement
and noise in electronic circuits", Van
Nostrand Reinhold, New York.
Modalità di svolgimento
dell’esame :
Prova scritta ed orale.
Ricevimento Studenti :
Presso la sede didattica con orario
stabilito in funzione del calendario e dell’orario
delle lezioni.
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