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Aims :

Descrivere al candidato alcune tecniche di misura con approfondimenti sulle leggi fondamentali su cui si basano e con la giustificazione dei loro limiti e delle loro utilità.

Topics :

Photons-prticlelike properties of radiation. Bohr’s model of the atom. X-ray diffraction : theory and application in surface analysis. Scanning Electron Microscopy and analysis of induced X rays.
Applications in modern physics for material’s detection.

Textbooks :

Verrà fornito ai candidati il materiale per lo studio e l’approfondimento.

Exam :

oral exam

Tutorial Session :

Ricevimento studenti il martedì e il mercoledì compatibilmente con gli orari di lezione. Sempre via e-mail.